课程天数： 2天
课程价格： ￥3,900
其他说明：可定制为企业内训
- 即将开课
VDA19.1技术清洁度
1.VDA19.1培训时间
2025年1月14-15日,3月24-25日,4月22-23日,5月27-28日,6月28-29日,7月22-23日,8月27-28日,9月25-26日,10月28-29日,11月26-27日,12月27-28日
2.VDA19.1培训费用与地点
公开课程地点:杭州、上海、北京、广州、成都、南京、苏州。
课程费用:3900RMB/人,3人以上团体报名9.5折优惠。可安排进厂内训,受训名额不限。
3.VDA19.1培训报名
4.VDA19.1培训教材
每位学员获得一套版权所有的教材,免费赠送海量电子版参考资料、案例、MINITAB软件.
5.VDA19.1培训对象
质量管理人员、体系管理人员、SQE、热处理的工艺人员、产品设计人员等
6.VDA19.1培训特色
本课程为实战落地式课程，以掌握操作技能为目标，授课以各行业图文视频案例分析+互动研讨 + 问题答疑 + 理论总结为主。
7.VDA19.1培训道具：
每位学员准备笔记本电脑一台、白板笔2支、投影仪、白板、A1纸、签纸、会议室.
8.VDA19.1培训内容
一、检测的前提
1. 应用范围
1.1首件认可
1.2来料检验
1.3日常的清洁度监控
1.4不适用薄膜状杂质/流体检测
1.5属于间接检测，不可能重复检测
2.清洁度规范（可实现的清洁度极大程度取决于设计(产品/设施/流程等)）
2.1清洁度规范值或限值设定的必要性和可行性
2.2材料/成本/清洗技术/对导致失效颗粒的研究/流体系统模拟/标杆对比
2.3清洁度检测过程的质量控制
2.3.1合适的专业设备
2.3.2洁净空间(实验室的洁度)-详见VDA19.2要求
2.3.3专业人员(培训和经验)
2.3.4避免人员流动
2.3.5检测结果的随机性
2.3.6规定取样/运输/检测地点以及使用的清洁度要求
3.符合清洁度要求的处理
3.1零件萃取的考虑因素:处理过程/包装/运输环境条件/仓储/检前的预处理
3.1.1整个检测过程的职明确(从采样到还样),相关人员培调
3.1.2包装须保证清洁度(耐腐/密闭/碰擦等)
3.1.3存储和运输(路程/时间跨度/震动/防护措施/标识等)
3.1.4是否洁净室要求1SO14644、VAD19.2等)
3.1.5存储和运输(路程/时间跨度/震动/防护措施/标识等
3.2无效检测
3.2.1采样时的偏差检测/
3.2.2检测对象异常(生锈等)/包装异常等
3.2.3检测过程中的偏差和错误
3.2.4检测过程任何偏差和错误
3.2.5检测过程任何偏差或事件应记录在案
二、萃取颗粒
1.萃取方法的研究和空白值检测
1.1杂质衰减试验
1.1.1杂质衰减试验
1.1.1杂质衰减试验
1.1.1.1确定适当的试样数量
1.1.1.2清洗检测设备,检测空白值
1.1.1.3同样的样件采用启动参数连续6次清洗
1.1.1.6达到要求后即可制定检测参数
1.1.1.6.1满足条件需要n次清洗时,制定的总请洗时间至少应为n-1倍
1.1.1.6.2 六次都未达到衰减,需要调整参数或方法,重新试验
1.1.1.6.3重复优化后不能达到提求,即例(清洗中驱动的零件/自身释放颗粒的零件/高度洁净的零件
1.1.2衰减试验一般用质量描述
1.1.3杂质大小分布也应在所有颗粒大小分级内具有减效果
1.1.4稳定衰减/延迟衰减/无衰减/增加/迅速衰减
1.2空白值检测(保证外部杂质引人不会导致误判)
1.2.1空白值不能超过要求值的10%(质量)
1.2.2空白值允许的最大粒径为允许最大颗粒的一半(适用于我们)
1.3 检测颗粒探究
1.3.1验证全过程中是否有杂质颗粒丢失
1.3.2在清洗设备中加入一定数量和大小的颗粒,在后续分析中能否被检测
检测颗粒:可用特定制作(易辨识)；可用自有颗粒（检验检测过程中没有颗粒丢失）
二、萃取颗粒
2.萃取方法
2.1萃取方法的一般要求
2.1.1清洗设备的一般要求：粗精度/机械耐受性/无污物堆积/无磁性和静电等
2.1.2样品的预处理(抽取)和后处理(报废或回用必须明确)
2.1.3折除包装的事项
2.1.4准备/条件,如分区域检测
2.1.5折解(可能存在将样件折解后进行检测)
2.2液体萃取
2.2.1清洗液
2.2.1.1须与零件/设备兼容(包括密封件/过滤器)
2.2.1.2清洗液的选择主要依赖于零件的材料和杂质的特性
2.2.1.3洗液
清洗液必须过滤保证清洁(清洁过滤应为最小粒尺寸的10%;多重过滤)
2.2.1.4清洗和冲洗的液体必须全部用来分析
2.2.2喷洗
2.2.2.1普遍适用;人员影响很大
2.2.2.2适用于外表面和内部结构
2.2.2.3可采用筛网清洗小件
2.2.2.4关键参数：清洗液特性/流量和喷嘴横截面积的组合/喷嘴形状/与试样的距离和角度/清洗顺序/请洗时间或洗液用量/单位面积的重复次数
2.2.2.5启动参数
2.2.2.6气雾的产生问题(考虑防爆)
2.2.3超声波
2.2.3.1重复性好,人员影响小、涂层税落、声场分布、气穴空化
2.2.3.2基于空化气泡爆破产生的高压力峰值/超声功率越强而频率越低时,清洁能力越强
2.2.3.3关键参数:请洗液的特性和温度/超声频率/功率强度/振动器的位置/试样与声源的朝向/清洗时间/零件的移动
2.2.3.4超声波清洗设备的监控(老化试验:铝箔气孔穿孔数量)
2.2.3.5启动参数(≥10W/L):试样离声源的距离>波长
2.2.4冲洗
2.2.4.1载流零件适用,空白值小,人员影响小;设备昂贵,连接位置磨损
2.2.4.2计算湍流,雷诺系数Re>4000
2.2.5搅动
2.2.5.1操作简单,成本低，适用范围小
2.2.5.2启动参数：清洗液加注量20-40%，频率：1Hz
2.2.6溶解：防腐或涂脂零件在清洗前执行溶解操作
2.3气体萃取
2.3.1喷射(空气吹扫)
2.3.1.1一般用电子元件/物流包装/吸气系统; 面积大，空白值高
2.3.2气体流通
2.3.2.1一般用于空气传导组件, 如进气管等；工装复杂
1.滤膜选择
1.1耐化学性/耐热性/受力稳定性
1.2滤膜孔径: 最小红粒的1/10-1/5
1.3多级过滤(更好地选择性过滤泡)
1.4泡沫过滤/网状滤膜(PET/尼龙)
1.5滤膜与检测溶液的抗性
2.滤膜的操作
2.1滤膜的保存(膜片盒）
2.2使用前的检查和清洗(必要时)
2.3滤膜的的明确标识
2.4滤膜的夹持
3.滤膜上的杂质分布
3.1杂质分布百分比
3.2杂质分布的均质性
3.3纤维的分布
3.4编织滤膜覆盖率建议不超过3%
3.5滤膜的有效面积
四、分析颗粒
1.标准分析
1.1重量分析
1.1.1重量恒定性(至少通过一次试验来确定烘干温度和时间)
1.1.2环境条件(温湿度/震动对电子天平影响)
1.1.3重量分析的阻值(天平精度为空白值的10%)
1.2光学分析（对杂质颗粒进行测量(计数/确定类型等）
1.2.1光学分析的影响因素:镜头、照明类型、视场、二值阀值、测量和定义的算法、光学特性等
1.2.2标准光学分析的四个前提:光学分析系统符合相应的条件,如粒>50um,分布均匀的滤膜，人员培训
1.2.3根据粒大小适用的方式推荐
1.2.4光学显微镜的设置
1.2.4.1带偏振镜:
1.2.4.1.1亮度值为滤膜背量最大亮度的55±5%
1.2.4.1.2二值阀值为相对灰度值分配最大值的70%
1.2.4.2不带偏振镜
1.2.4.2.1亮度值为滤膜背景最大亮度值的50%
1.2.4.2.2二值阀值有两个:70%和145%
1.2.5颗粒尺寸的测量和分类
1.2.5.1颗粒长度:颗粒两端两根平行线之间最大垂直距离(Feretmax)
1.2.5.2颗粒宽度:粒两端两根平行线之间最小垂直距离( Feretmin)
1.2.5.3其他(可选)宽度定义：最大内切圆和最大正交宽度
1.2.6纤维的定义与测量·
1.2.6.1结构分类的几何标准: 拉伸长度/最大内切圆直径20um：通过最大内切测量的宽度<=50um
1.2.7金属光泽颗粒的分类
1.2.7.1非偏振和加偏振来区分
1.2.7.2自动分析的结果须有资质专家手动确认
1.2.8再确认
1.2.8.1因亮度问题,颗粒被成割裂成多个颗粒
1.2.8.2颗粒堆叠,为一个颗粒
1.2.8.3颗粒性质误判
1.2.9光学设备的校准与保养
1.2.9.1长度校准
1.2.9.2标准样块
2.其他分析
2.1颗粒高度
2.1.1通过显微镜的镜头景深确定粒度高度(要考虑颗粒嵌入滤膜或被压入滤膜)
2.1.2 SEM/EDX(扫福电镜/X射线光谱)
2.1.3 LIBS(激光诱导击穿光谱仪
2.1.4 Raman(拉曼光谱)
2.1.5 IR(红外光谱)
2.1.6 X射线层析 CT
2.1.7 简易分析【快速分析(液体颗粒计数器/滤膜堵塞) 】
五、检测的相关事项
2.解释与反馈
2.1解释清洁度检测与分析的作用
2.1.1发现清洗过程/清洗设备的故障
2.1.2发现错误放置/工装的磨损
2.1.3发现错误的包装和储
2.2检测超差后的反馈
2.2.1 B-样品(同批次检验)
2.2.3 B-样品超差后,升级措施
3.职业安全与环境
3.1常规的危险源识别
3.2清洗液的危害
3.2.1吸入或皮肌接触的危害
3.2.2物化特性产生的危害
3.3针对措施
3.3.1可替代,如清洗液的选择/清洗方法的选择等
3.3.2技术措施,如强制通风/防爆保护等
3.3.3组织监控
3.3.4个人防护措施，如呼吸防护/防液体工作服等
9.VDA19.1培训案例
